Difracción de rayos X

 

La difracción de rayos X se basa en la interacción de los rayos X con la estructura atómica de un material. Cuando un haz de rayos X incide sobre una muestra cristalina, los electrones en los átomos difractan la radiación en distintas direcciones. Debido a la disposición periódica de los átomos en el cristal, los rayos difractados pueden interferir constructivamente en ciertas direcciones cuando se satisface la ley de Bragg.

El Laboratorio de Difracción de Rayos X de INMALAB está concebido para ofrecer soluciones integrales a investigadores y empresas de diversos sectores, como el minero, aeroespacial y muchos más. Contamos con equipos de última generación que permiten realizar análisis detallados de estructura cristalina, identificación de fases y caracterización de tensiones residuales en diferentes materiales.

Nuestro laboratorio está equipado con tecnología avanzada que incluye difractómetros de alta precisión, capaces de realizar análisis en polvo, sólidos y películas delgadas, así como técnicas de microdifracción para estudios localizados. Además, ofrecemos servicios especializados de mapeo del espacio recíproco, reflectometría y análisis de texturas. Con el respaldo de un equipo de expertos, INMALAB está preparado para atender las necesidades específicas de cada proyecto, proporcionando resultados precisos y fiables en cada estudio.

Bruker D8 Discover

El D8 DISCOVER es un difractómetro de Rayos X versátil y de alto resolución, Diseñado para la caracterización estructural de una amplia gama de materiales, desde polvo, materiales amorfos y policristalinos hasta capas delgadas en condiciones ambientales o atmósfera inerte. Equipado con una microfuente, permite realizar microdifracción con resolución espacial precisa, así como mediciones con incidencia rasante o reflectometría. Además, ofrece la capacidad de llevar a cabo estudios de tensiones residuales y análisis de texturas. Este equipo incluye un detector Eiger-200K de última generación, que posibilita la adquisición de datos de difracción en dos dimensiones, proporcionando una visión completa y detallada de las muestras analizadas.

  • Cuna de Euler: Integra las rotaciones chi y phi y traslaciones x-y-z en un único soporte de muestras, otorgando 5 grados de libertad.
  • Panoramic evacuated flight tube de 350 mm: Minimiza la dispersión del haz de rayos x difractados, mejorando la relación señal-ruido.
  • Colimadores de 0.1, 0.5, 1 y 2 mm.
  • Portamuestras  de PMMA o cuarzo para análisis de polvo polvo PMMA.
  • Portamuestra  de PMMA para análisis de polvo en atmósfera inerte.
  • Portamuestra de Silicio zero-background para análisis de polvo.
  • Portamuestra de Silicio zero-background con cúpula para análisis en atmósfera inerte.