Microscopía electrónica

La microscopía electrónica de barrido (SEM) es fundamental en una amplia gama de disciplinas, que abarcan desde la Ciencia e Ingeniería de Materiales hasta la Biología, Geología, Electrónica, Arqueología y la Medicina Forense, entre muchas otras.

El Servicio de Microscopía Electrónica de Barrido de INMALAB está diseñado con una visión integradora, capaz de atender las necesidades de investigadores de diversas áreas de conocimiento y empresas de sectores como el minero, aeroespacial, y muchos más.

Nuestros laboratorios cuentan con un microscopio electrónico de presión variable que permite trabajar con muestras biológicas y mineralógicas sin recubrimiento. Además, nuestro microscopiocuenta con detectores para EDX (Espectroscopía de Dispersión de Energía) para análisis elemental y EBSD (Difracción de Electrones Retrodispersados) para estudios cristalográficos, así como STEM para muestras de menor tamaño.

Zeiss GeminiSEM 300

Zeiss GeminiSEM 300 es un microscopio electrónico de barrido (SEM) de presión variable y alto rendimiento equipado con un cañón de emisión de campo de tipo Schottky, varios detectores (SE, BSE, in lens), así como un detector de electrones secundarios de presión variable y catodoluminiscencia. Puede realizar análisis composicional y cristalográficos mediante los detectores Oxford EDS y EBSD. El microscopio también cuenta con un sistema Kleindiek de micromanipuladores y nanosondas con detector EBIC (Electron beam induced current) para caracterización eléctrica en la nanoescala.

VacCoat DST1-170

Metalizadora de alto vacío capaz de producir depósitos uniformes de alta calidad con tamaños de grano fino (Au, Ag, Pt, Cr y C), adecuadas para muestras que requieren caracterización de alta resolución como SEM, EDS, y EBSD. Monitorización de espesor de cristal de cuarzo con precisión de 1 nm y resolución de 1 Å.

Medias a presión variable para muestras biológicas y geológicas.
Detector EDS y EBSD.
Sistema Kleindiek de micromanipuladores y nanosondas
Obleas de Au, Ag, Pt y Cr para metalizaciones.
Filamento de C para recubrimientos.
Portamuestra multipropósito para medidas cross-section.